VIS-NIR 光束質量分析儀

Metrolux  VIS-NIR 光束質量分析儀(yi)

產(chan) 品簡介

      VIS-NIR 光束質量分析儀(yi) 可測量激光強度分布，範圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從(cong) 1µm - 100 mm，可按EN-ISO標準記錄和分析光束。

      具有適合於(yu) 分析光斑和光束位置以及用於(yu) 均勻激光光束特點描述的各種軟件工具，可選附件便於(yu) 協調脈衝(chong) 激光器和單脈衝(chong) 的測量。

    機械部分采用特殊表麵細化、光學部分采用光學增透膜把雜散光減小到zui小的優(you) 化探測頭。

    VIS/NIR激光光束分析儀(yi)  UV激光光束分析儀(yi)

       基於(yu) 激光光束分析儀(yi) 的“光束檢測”的CCD相機，被優(you) 化適合於(yu) 低輸出功率的連續和脈衝(chong) 激光器準直光束分析，大部分VIS/NIR波長範圍的激光，可用此係統典型分析，例如Nd:YAG或者半導體(ti) 激光器通常使用此係統分析。

       光束質量分析儀(yi) 包含Beamlux II軟件、標準攝像頭及附件如中性密度濾光片組合和可快速建立測量的設備，使用這些可選配件，係統也可用於(yu) 高功率激光束和焦點直徑小於(yu) 10µm的測量。

產(chan) 品特點

    采用ML3743CCD相機的高分辨率光束質量分析儀(yi)

    采用可廣泛應用的BeamLux II軟件包

   可通過外觸發TTL測量脈衝(chong) 激光器

標準版*功能: 

    可遠程控製步進電機

    可通過TCP/IP遠程控製

    通過ML協議的協議文檔

產(chan) 品參數         基礎版                         標準版

波長：                    320 - 1100 nm              ----

功率：                    <1W                             ---- 

傳(chuan) 感器：                  CCD2/3"                      ----

有效麵積：              8.97X6.71mm2             ----

分辨率：                 6.5µm                           ----

軟件：                    基礎版Beamlux II          高級版Beamlux II 

光束類型：             原始發散光                     ----

光斑大小：            60µm-5mm                    ----

接口：                  IEEE1394                         ----

工作距離：            17.5mm                          ----

重量：                   300g                               ----

產(chan) 品應用

測量光斑大小、發散角、近場、遠場、光束指向穩定性、功率、焦散、均勻性